ANÁLISE, DETECÇÃO E LOCALIZAÇÃO DE FALTAS DE ALTA IMPEDÂNCIA EM SISTEMAS DE DISTRIBUIÇÃO UTILZANDO APRENDIZADO DE MÁQUINA

dc.contributor.advisorTHIAGO AMERICANO DO BRASIL
dc.contributor.advisorCategoryCOLABORADOR
dc.contributor.advisorCountryBrasil
dc.contributor.advisorOnBoardSim
dc.contributor.advisorTypeDocente
dc.contributor.authorGUSTAVO DA SILVA ROCHA ARAUJO
dc.contributor.principalAdvisorSim
dc.contributor.referee1THIAGO AMERICANO DO BRASIL
dc.contributor.referee2GABRIEL MATOS ARAUJO
dc.contributor.referee3LUCIANA FALETTI ALMEIDA
dc.contributor.referee4LUIS FERNANDO CORREA MONTEIRO
dc.date.accessioned2026-07-23T14:34:43Z
dc.date.issued16/08/2024
dc.date.orientationEnd16/08/2024
dc.date.orientationStart04/06/2021
dc.description.abstractThe occurrence of high impedance faults (HIF) in primary distribution networks represents a danger to the safety of people, equipment, and animals. However, protection devices close to the distribution network are not able to be sensitized by this type of defect in most cases. This work presents an integrated strategy for the classification, detection and location of HIF, based on the use of classifiers based on supervised learning algorithms, such as K-nearest neighbors, Support Vector Machines and Ensemble. An improved fault model was used to emulate random behaviors, and especially intermittency for high impedance faults. The residual current was monitored, and its characteristics were extracted using the Short-Time Fourier Transform (STFT). A temporal consistency logic was applied to the detection stage. An algorithm for fault location from the measurement of voltages at low voltage it was considered. The functioning of the presented algorithm was carried out through several simulations in two different distribution systems.en
dc.description.abstractA ocorrência de faltas de alta impedância (FAI) em redes de distribuição representa um perigo para a segurança das pessoas, equipamentos e animais. No entanto, dispositivos de proteção junto a rede de distribuição não são capazes de serem sensibilizados por esse tipo de defeito na maioria das vezes. Este trabalho apresenta uma estratégia integrada de classificação, detecção e localização de FAI, fundamentado no uso de classificadores baseados em algoritmos de aprendizado supervisionado, tais como Knearest neighbors, Support Vector Machines e Árvores de Decisão. Um modelo de falta aprimorado foi usado para emular comportamentos de aleatoriedade e especialmente intermitência de faltas de alta impedância. A corrente residual foi monitorada e a extração de suas características foi realizada a partir da Short-Time Fourier Transform (STFT). Uma lógica de consistência temporal foi aplicada ao estágio de detecção. Um algoritmo de localização de FAI a partir da medição das tensões na baixa tensão foi considerado. A partir de uma análise comparativa entre dois sistemas distintos verificou-se o funcionamento dos algoritmos através de diversas simulações em dois sistemas de distribuição distintos.pt
dc.description.refereeCount4
dc.format.pages86
dc.hasResearchProjectInstrumentação Inteligente e Controle Avançado de Sistemas Incertos
dc.identifier.capes31022014004P3
dc.identifier.lattesAdvisor7976857463182643
dc.identifier.lattesReferee17976857463182643
dc.identifier.lattesReferee24461794616207452
dc.identifier.lattesReferee34464030742969145
dc.identifier.orcidAdvisor0000-0002-7891-0034
dc.identifier.orcidAuthor0000-0003-4356-4706
dc.identifier.orcidReferee10000-0002-7891-0034
dc.identifier.orcidReferee20000-0002-0033-3265
dc.identifier.orcidReferee30000-0001-7149-8350
dc.identifier.orcidReferee40000-0002-8537-0785
dc.identifier.other15642266
dc.identifier.pg204014
dc.identifier.urihttps://repositorio.cefet-rj.br/handle/123456789/191
dc.language.isopt_BR
dc.publisherCENTRO FEDERAL DE EDUCAÇÃO TECNOLÓGICA CELSO SUCKOW DA FONSECA
dc.publisher.institutionCENTRO FEDERAL DE EDUCAÇÃO TECNOLÓGICA CELSO SUCKOW DA FONSECA
dc.publisher.institutionSiglaCEFET-RJ
dc.publisher.institutionSiglaAuthorCEFET-RJ
dc.publisher.programEngenharia Elétrica
dc.rightsFechado
dc.status.consistentSim
dc.subjectINSTRUMENTAÇÃO E CONTROLE
dc.subject.cnpqENGENHARIAS IV
dc.subject.concentrationSISTEMAS ELETRÔNICOS INDUSTRIAIS
dc.subject.keywordsHigh impedance fault
dc.subject.keywordsHIF
dc.subject.keywordsKNN
dc.subject.keywordsSVM
dc.subject.keywordsDetection
dc.subject.keywordsFault Location
dc.subject.keywordsSTFT
dc.subject.keywordsMachine Learnin
dc.subject.keywordsFalta de Alta Impedância
dc.subject.keywordsKNN
dc.subject.keywordsSVM
dc.subject.keywordsDetecção
dc.subject.keywordsLocalização
dc.subject.keywordsSTFT
dc.subject.keywordsAprendizado Supervisionado
dc.titleANÁLISE, DETECÇÃO E LOCALIZAÇÃO DE FALTAS DE ALTA IMPEDÂNCIA EM SISTEMAS DE DISTRIBUIÇÃO UTILZANDO APRENDIZADO DE MÁQUINA
dc.typeDISSERTAÇÃO

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